”[密度泛函]防晒修改初始化文件的测试芯片!

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wjccentury

Guest
您好,所有,
我有一个关于initilaizing的测试芯片的问题。通常情况下,我们应该修改的SPF文件的MacroDefs。
背景是:
1。RSTn信号扫描测试复位
2。XXTI信号是一个正常的信号(不密度泛函信号)
3。测试芯片之前,下面的操作应该做:
字母a.断言RSTn(1'b0)
湾插入10MHz的时钟XXTI和任期为3周期
角去断言RSTn(1'b1)
d.插入10MHz的时钟XXTI和举行5个循环

我修改了“test_setup”,但我不能得到我想要的。

以下是我的修改:
1。为10MHz的_default_WFT_
2。定义XXTI为_default_WFT_在“时机”
3。在test_setup,添加以下内容:

V(“RSTn”= P;)/ /我不能强迫RSTn 1'b0为3个周期

, 因为它的关闭状态是1'b1

V(“XXTI”= P;)
V(“XXTI”= P;)
V(“XXTI”= P;)
V(“RSTn”= 1;)
V(“XXTI”= P;)
V(“XXTI”= P;)
V(“XXTI”= P;)
V(“XXTI”= P;)
V(“XXTI”= P;)

然后我检查了波形,复位信号的时间不是我想要的。我怎样才能解决这个问题?
我希望你能帮助我!
非常感谢!

 
您可以通过定义一个多波形表您想要的结果
, 然后分别控制的时间。1。RSTn信号扫描测试复位
由于这是一个积极的信号
, 低你不能保持它在任何零向量。

2。XXTI信号是一个正常的信号(不密度泛函信号)
因为我们需要这样的脉冲信号
, 你必须定义为时钟它。为此作出test_setup作为波形

WaveformTable“_ts_WFT_”(
期间'500ns';
波形(
“all_inputs”(0('0纳秒'Ḏ;))
“all_inputs”(1('0纳秒促;))
“all_inputs”(ž('0纳秒的'Z;))
“all_inputs”(ñ('0纳秒'东经;))
“all_outputs”(X('0纳秒的X; '40ns的X;))
“all_outputs”(ħ('0纳秒的X; '40ns的H;))
“all_outputs”(Ť('0纳秒的X; '40ns『T;))
“all_outputs”(蜇('0纳秒的X; '40ns『L;))
“时钟”(P('0纳秒'Ḏ; '145ns促; '155ns'Ḏ; '245ns促; '255ns'Ḏ; '345ns促; '355ns'Ḏ;))
“水库”(P('0纳秒促; '45ns'Ḏ; '455ns促;))



并然后在您的test_setup向量这一波形运行在默认纤溶休息。

MacroDefs(
“test_setup”(
糯“_ts_WFT_”;
ç(
“all_inputs”= \ R6的Ñ;
“all_outputs”=二十;

V(“时钟”= P,“水库”= P;)
糯“_default_WFT_”;
V(“时钟”= P,“水库”= 1;)
V(“时钟”= P,“水库”= 1;)
V(“时钟”= P,“水库”= 1;)
V(“时钟”= P,“水库”= 1;)
V(“时钟”= P,“水库”= 1;)
V(“时钟”= 0;“水库”= 1;)

)您将可以得到您想要的波形。

,欢呼声
vlsi_eda_guy

 

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