多芯片模块测试文章

[hhlin]

您好，请帮助下载两个MCM的测试文章：

设计自可测试的多芯片模块
http://www.computer.org/portal/web/csdl/abs/proceedings/edtc/1996/7423/00/74230181abs.htm

一种有效的多芯片内建自测试方案
http://www.springerlink.com/content/p5hr18x1t3553n7q/谢谢！
海林黄。

 

[Guest]

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[tenoutit]

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