密度泛函理论的核心

J

jaydip

Guest
我有一个核心使用的内存
与 内存已经内建。

问:
1 )将这种记忆是我的扫描链? ?

2 )我需要绕过这个内存扫描模式时
, 在(插入复用器在我的Verilog代码) ? ?

任何人都可以更多地讨论这点吗?或你需要更多的投入? ? ?

 
如果我们绕过
, 从扫描链,如何做到这些的BIST的记忆?

 
扫描测试和内存BIST的是没有进行过在同一时间。

觋写道:

如果我们绕过,从扫描链,如何做到这些的BIST的记忆?
 
@ ecijun
将EDA工具购买多工器或必须做的设计师中明确Verilog代码? ?

 
您好Jaydip ,

注意事项..

没有必要插入扫描链到您的记忆核心。

您可以跳过内存在的RTL阶段本身
, 使您的设计测试友好。(或)
您可以跳过内存插入testpoints周围使用的EDA工具。

双方MBIST和扫描测试将不会运行simultaniously 。

Beusure的MBIST逻辑测试端口可供测试设备。我的意思是,你需要控制你的MBIST核心
, 可以从外面观察的结果。

您可以计划相应的测试结构,因此, ü可以使用不同的测试potrs或多重乌拉圭回合的测试端口扫描和MBIST 。

休息之后
, 将过程中
, 我们的工作。

好运..
希望这将有助于

欲了解更多信息..
http://www.asic-dft.com/MBIST.html

-苏尼budumuru

 
以坐标知识插入复用器不这样做的Verilog的水平
, 但插在物理层和这些不'形式逻辑的一部分
, 但它们意味着测试。

03纠正我
, 如果我错了....

 
通常的多工器的一部分
, 内建记忆体衣领,或包装-这是否进入RTL代码取决于当你插入的逻辑-它可以做到无论在劳动教养或盖茨-你在做一个自定义mBIST实施?或使用工具?

JMF
用于DFT的谈话/信息转到:
密度泛函理论文摘
密度泛函论坛

 
在以往的设计,
我 认为这是连接到的JTAG逻辑
, 并用它来触发MBIST 。

 
如果是这样....其罚款。但是
, 仔细检查
, 如果目前的设计是和以前一样。

 

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