Feb 15, 2000 #2 G Guest Guest 可测性设计=密度泛函理论。 和故障模拟=财政司司长。 regardign财政司司长:它是与故障注入电路仿真在其中。所以你需要三个组成部分 1。电路defination /模型/高密度脂蛋白/配置(用于电路故障免费) 2。故障模型::=,介绍了在模拟电路故障运行 3。黄金输出::=理想的组合为给定的输入输出电路 例子。采取p和n的CMOS反相器晶体管 一个输入一个输出 1。所以电路网表是你的电路defination 2。考虑固定为1或停留在0每个晶体管的输入和输出故障 3。为给定的输入组合(这里只是一个位作为输入等 输入= 0 = 1的黄金产量。 输入= 1黄金产量= 0。 然后模拟电路1的故障模型2(而不是正常的晶体管模型)和比较电路的输出与预期黄金产量3。 如果偏离了实际产出黄金的平均故障可以用给定的输入组合检测。 如果有故障无法探测的任何组合 , 然后输入您需要修改你的设计 , 使得:电路所需的功能变化 , 但不列入拟故障可确定。吃了这种技术被称为“可测性设计”密度泛函理论。 延伸阅读: \ 1 \故障仿真找到最小的测试向量。 \ 2 \ DFT技术 , 以协助*测试后期设计*。 关于...宇江
可测性设计=密度泛函理论。 和故障模拟=财政司司长。 regardign财政司司长:它是与故障注入电路仿真在其中。所以你需要三个组成部分 1。电路defination /模型/高密度脂蛋白/配置(用于电路故障免费) 2。故障模型::=,介绍了在模拟电路故障运行 3。黄金输出::=理想的组合为给定的输入输出电路 例子。采取p和n的CMOS反相器晶体管 一个输入一个输出 1。所以电路网表是你的电路defination 2。考虑固定为1或停留在0每个晶体管的输入和输出故障 3。为给定的输入组合(这里只是一个位作为输入等 输入= 0 = 1的黄金产量。 输入= 1黄金产量= 0。 然后模拟电路1的故障模型2(而不是正常的晶体管模型)和比较电路的输出与预期黄金产量3。 如果偏离了实际产出黄金的平均故障可以用给定的输入组合检测。 如果有故障无法探测的任何组合 , 然后输入您需要修改你的设计 , 使得:电路所需的功能变化 , 但不列入拟故障可确定。吃了这种技术被称为“可测性设计”密度泛函理论。 延伸阅读: \ 1 \故障仿真找到最小的测试向量。 \ 2 \ DFT技术 , 以协助*测试后期设计*。 关于...宇江
Feb 15, 2000 #5 T tutx Guest 故障模拟是一个过程 , 帮助我们找到最好的测试向量集。 您应进行这与ATPG的并行进程。这意味着: 第一个你应该生成测试向量集。然后,您执行故障仿真 , 优化设置 , 以减少测试时间,测试成本,这个载体... 希望这会帮助您!如果它可以帮助您,请不要忘记给我帮助 , 以获得一些积分。 <img src="http://www.edaboard.com/images/smiles/icon_smile.gif" alt="微笑" border="0" />
故障模拟是一个过程 , 帮助我们找到最好的测试向量集。 您应进行这与ATPG的并行进程。这意味着: 第一个你应该生成测试向量集。然后,您执行故障仿真 , 优化设置 , 以减少测试时间,测试成本,这个载体... 希望这会帮助您!如果它可以帮助您,请不要忘记给我帮助 , 以获得一些积分。 <img src="http://www.edaboard.com/images/smiles/icon_smile.gif" alt="微笑" border="0" />
Feb 15, 2000 #6 M manu_leo Guest 嗨 故障仿真模拟实际生产测试。故障模拟器故意注入电路故障 , 然后运行测试程序 , 并比较与金一输出 , 如果有偏差则决定 , 拟故障检测。然后使用此信息来查找故障覆盖率。