干膜问题

可测性设计=密度泛函理论。

和故障模拟=财政司司长。

regardign财政司司长:它是与故障注入电路仿真在其中。所以你需要三个组成部分
1。电路defination /模型/高密度脂蛋白/配置(用于电路故障免费)
2。故障模型::=,介绍了在模拟电路故障运行
3。黄金输出::=理想的组合为给定的输入输出电路

例子。采取p和n的CMOS反相器晶体管
一个输入一个输出

1。所以电路网表是你的电路defination
2。考虑固定为1或停留在0每个晶体管的输入和输出故障
3。为给定的输入组合(这里只是一个位作为输入等
输入= 0 = 1的黄金产量。
输入= 1黄金产量= 0。

然后模拟电路1的故障模型2(而不是正常的晶体管模型)和比较电路的输出与预期黄金产量3。

如果偏离了实际产出黄金的平均故障可以用给定的输入组合检测。

如果有故障无法探测的任何组合
, 然后输入您需要修改你的设计
, 使得:电路所需的功能变化
, 但不列入拟故障可确定。吃了这种技术被称为“可测性设计”密度泛函理论。

延伸阅读:
\ 1 \故障仿真找到最小的测试向量。
\ 2 \ DFT技术
, 以协助*测试后期设计*。

关于...宇江

 
故障模拟是一个过程
, 帮助我们找到最好的测试向量集。
您应进行这与ATPG的并行进程。这意味着:
第一个你应该生成测试向量集。然后,您执行故障仿真
, 优化设置
, 以减少测试时间,测试成本,这个载体...

希望这会帮助您!如果它可以帮助您,请不要忘记给我帮助
, 以获得一些积分。

<img src="http://www.edaboard.com/images/smiles/icon_smile.gif" alt="微笑" border="0" />
 


故障仿真模拟实际生产测试。故障模拟器故意注入电路故障
, 然后运行测试程序
, 并比较与金一输出
, 如果有偏差则决定
, 拟故障检测。然后使用此信息来查找故障覆盖率。

 

Welcome to EDABoard.com

Sponsor

Back
Top