有关multi_finger结构---如何奇怪的问题!

S

sunjiao3

Guest
嗨,亲爱的。
我遇到一个奇怪的multi_finger结构问题。在模拟了滞回的比较,我发现滞后窗口的宽度和错配的容忍是密切相关的手指数目。此外,即使手指与相同的数字结构,有不同的仿真结果。例如,一个NMOS管,这是10月2日,是depatched分为2 * 5 / 2 2手指或2的MOS晶体管的尺寸每1 5 / 2。结果是不同的。为什么?
我知道这是关系到物理学的MOS晶体管。因此,可以请人对这个问题作出解释。BTW,在比较低的频率工作,因此,在常德和皮质不那么重要,在我看来。
此外,有没有关于这一主题的论文集中?我想知道的一些细节。
非常感谢。

 
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共同的理解是
, 总闸区模型阈值和电导率不匹配。如果您使用的自动分析
, 如不匹配。幽灵它使用不匹配的过程模型中的文件设置。幽灵可能要么不考虑M“1或使用
, 而不是在与M网表单一实例”一并联一个实例数。自动化的错配分析
, 然后要总结的实例。所以
, 请看看如何配paramters的推导。

 
在这里,我没有使用的幽灵自动匹配分析。我只是改变了差分对一个尺寸。如果我使用的5%左右的错没有手指,滞后消失。然而,随着手指的使用,滞后甚至连150%(当然依然存在,如此巨大的不匹配是不可能的现实。)
论文或任何关于这一主题的书籍?

 
如果您更改差分对的规模,这是否意味着改变的一个对称配对的实例吗?还是你意味着改变的大小全部输入相关设备?

 
您应该检查您的香料模型文件。在BSIM3有不同的参数设置在W和L differents
这意味着
, 与W = 10使用一个阈值电压等价值一组晶体管,
和W = 5手指= 2使用另一种。
此外更多的参数
, 调整根据W和湖因此
, 导致不同的结果
, 使用手指或并行的晶体管。
如果你想看到的信息
, 请参考BSIM文件。

反正我认为最好是输入参数
, 这将是最接近的布局。因此
, 我personnaly不使用W = 100或更多,但糯= 5,手指= 2和10次并行晶体管。
但要carefull在并联晶体管。使用m参数。如果你真的把平行的原理它增加了节点的数量
, 使模拟慢。

 
skal81,非常感谢你的enlighting我就这一议题。
但是,还有一点我想在这里提到。正如你所说,用手指或平行晶体管模拟后可能导致不同的结果。因此,怎样写网表或图表需要我们深思。通常,这些布局2种方式的差异被认为是他们的常德和皮质颗粒。因此,有人告诉我:“不会有他们之间的许多差异在低频率。”然而,在模拟,我发现
, 在部分区情况下,模拟结果是不同的。Atention,我用同样的手指。例如,对于胡= 10晶体管,我用了2个手指和w = 5,或晶体管,每个晶体管2一个手指,瓦特= 5。这2种方式的手指是相同的:2 = 2 * 1。因此,他们对栅电阻理论上是相同的。那么,何来在直流模拟不同?

 
skal81向你解释

报价:

and so
, and W=5 finger=2 use another.
这意味着,与W = 10使用一个 阈值电压等
价值一组,和晶体管糯= 5手指= 2使用另一种。
 
对不起
, 我也糊涂了。余thougth该讨论的是在不匹配的差异!之间的区别不是韩元〜西2 *米马鞍山的宽度可以看出效果的有效宽度的打印输出。但是
, 这应该只有一对不匹配的结果非常轻微的影响。

请clearify!

 
rfsystem,这是不是错。在这里,没有差分对左右的交谈。重点是不同的仿真结果我得到使用
, 在布局的MOS晶体管不同的安排。它是关于不同的手指和调度。

 
由于一级方程式管理公司指出
, 区SPICE模型参数也受到W和湖我只是说Vth的,但实际上所有的参数,更多或更少。因此
, 难怪你的DC和AC仿真结果的变化。
所以
, 真正做您的示意图亲如你做你的布局。首先你会得到更准确的模拟结果,其次在做布局和LVS会比较容易:Ḏ

 

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