热载流子效应的问题是有关

S

sirricky

Guest
如何剂量LDD结构的工作,避免在MOS热载流子效应??不是很清楚,感谢
 
我认为LDD结构,以尽量减少热载流子效应。
 
低掺杂减少electeric领域,从而减少热载流子效应Ÿ没有使用所有低掺杂扩散,减少寄生电阻
 
下面的说明可以澄清你的疑问,它是在“模拟版图的艺术”援引。 [报价]强电场导致整个捏过饱和的MOS晶体管通道热载流子退化。电场强度减弱,如果枯竭地区可以有所扩阔。耗尽区在传统的晶体管,不能侵犯任何重大程度上为重掺漏。如果是比较轻掺杂漏极扩散,耗尽区扩展到漏,以及进入通道和电场强度将有所下降。这种轻掺杂漏(LDD)的晶体管能承受比大大高于漏 - 源电压可以传统的单一掺杂漏极(SDD)设备[/QUOTE]
 
液晶=横向双扩散或轻掺杂漏极?我已经有点糊涂。
 
在液晶掺杂较低。降低掺杂浓度,可以减少热电子效应
 

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