硅密度泛函理论问题

[rudrad]

什么问题都可以预期硅扫描模式？我关注的问题
， 可能会阻碍在扫描模式下运行的芯片说？
像我听说有时在扫描模式下的测试没有在预定的频率工作
， 这是设计的？

 

[rameshchand]

http://www.intellitech.com/products/silicon_debug.asp

 

[rudrad]

这将是有益的
， 如果任何人都可以预知
， 但总体上硅所面临的问题？

 

[Guest]

[No message]

 

[dft_guy]

您可以通过模拟您避免与后台扫描矢量注解的时间信息（自卫队）在芯片有问题。然而，即使你可能有一些问题，因为通常，模拟是无法运行的所有相同的时间用来的时间很接近的角落。

当有人说他们不能够运行扫描速度，它通常意味着ATPG的是没有考虑所有的假，多周期路径
， 目前在设计运行。这些路径一般不运行速度。这样的情况在很多的多时钟域电路。

也很普遍的是
， 扫描链不会把好-他们可能保持时间的行为。这是难以克服，但局部的模式设置有可能如果你能找出问题所在。再次，如果您在扫描模拟转向投产前，您可能会避免这种情况。

这里有一个很好的链接扫描调试（这是一个PDF格式）：

调试和诊断（铝克劳奇扫描链）

希望它能帮助，
约翰

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