”ATPG的Untesttable故障-怎样才能避免呢？

[Guest]

大家好，

我用编译器的设计和DFT编译器扫描我的设计插入。当我检查了我的刚果民主共和国的报告后干膜这表明我有任何侵犯。我的SPF文件转换为pastscan proc文件使用stil2mgc工具。我已经生成的设计stuckat模式。所有模式传递。不过
， 我到非盟故障报告我希望找到的不是在这些垫一级天气
， 应作为输入或输出他们都在性质上使用的双向引脚定义功能区故障。我有点困惑
， 为什么我就功能引脚获得金故障。推荐我应该怎么办？我是否需要添加控制和观察点？

 

[sunilbudumuru]

您好朋友，

1。高科合作协会的测试覆盖？
2.Have ü固定的比迪端口？

set_dft_configuration - fix_bidirectional启用
（或）手动u能修复的港口方向。

-苏尼尔Budumuru
ASIC的dft.com

 

[Guest]

您好苏尼尔，

感谢您的答复。不过
， 该命令将不能在默认条件怎么把双向端口已经定型。我现在提出了Synopsys手册行： -

- fix_bidirectional启用|禁用
启用或禁用双向禁用自动更正实用工具。默认情况下，
bidirectionals是autofixed。

我有stuckat重新配置模式
， 而96.07％的覆盖率。我失去了一些
， 因为3.63％的覆盖率黑盒子。

 

[Guest]

[No message]

 

[sunilbudumuru]

Thts罚款，但是u只是验证该工具是否固定或没有。

在preview_dft，所有的报告，u能看看双迪获得的工具或不固定。正如报告previw_dft。

顺便工具并不能解决所有的双娣的默认。因此，它始终是更好地核实双向迪港口后的DFT网表
， 看看他们是否得到固定或没有。

顺便96.07％的覆盖率是好的。如果BB的是种RAM的建议是插入测试点
， 以提高覆盖范围。

-苏尼尔budumuru
ASIC的dft.com

 

[Guest]

感谢苏尼尔的答复。是的
， 我有处理器，锁相环，RAM和ROM的黑盒子。我使用插入控制以及观察点set_dft_configuration命令。但即使如此
， 我得到同样的覆盖范围。对于使用fastscan ATPG的即时消息。我需要使用记忆macrotest命令？还有一件事
， 我想知道是什么之间的ATPG的只是一个简单的内存模型记忆模式的区别。

 

[sunilbudumuru]

1。如该模式运行的DFT Compiler DB或XG？
2。乌拉圭回合插入如何控制（处长）和观察点（OP）的使用set_dft_configuration？

至于在记忆ATPG的模型，我不能给你整个细节
， 因为它需要时间。但是，正如u've BB'ed的存储器，我提出以下建议。

在连接到数据输入，地址和一些控制线路故障的逻辑将观察到的，而在连接到数据输出的逻辑故障会
无法观察到。因此，仅仅是CP和观察哨
， 同时插入密度泛函理论逻辑和进一步开展。

这种方式u能得到更好的覆盖面。

很少有其他的方法来处理的DFT记忆，可以看到在ASIC在两天dft.com。

祝您好运。

苏尼尔Budumuru
ASIC的dft.com